TTC Trust Technology Corporation

販売中古装置情報: Inspection

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TTC ID メーカー 型式 品名・仕様 年式 台数 対応製品
* 5INSade-awi-Y0395 ADE AWIS-3110 ウエハ検査機/8in. Inq. 1
5INSagi-n49-P8373 アジレント N4906A ビットエラー率アナライザ 2010 1
5INSama-sem-G7708 アプライドマテリアルズ Semvision 200CX 欠陥検査機 2000 1
5INSamt-inq-I6277 AMTECH Inq. 光学検査システム Inq. 1
5INSanr-mp2-P8376 アンリツ MP2101A ビットエラー率アナライザ 2012 1
* 5INSbro-bri-Y0363 ブルックス Bright light 200 UV検査機/8in. 2002 1
* 5INSchr-190-V3941 Chroma 19073 耐圧絶縁抵抗試験器 Inq. 1
5INSchr-inq-V3937 Chroma Inq. 耐圧絶縁抵抗試験器 Inq. 1
5INSdin-vm--N8274 鼎晶 VM-200 精密二次元目視検査装置 Inq. 2
* 5INSdkl-ru--R0168 DKL RU-700 ディフェクトレビューユニット 1995 1
5INSeik-l00-Q8309 EIKO007/909 L0011Lamp.115V.PTC エピメットランプ/125V 250W Inq. 20
* 5INSeld-xl8-C0526 ELDIM S.A. XL88 コントラスト機 2006 1
* 5INSham-c93-E4962 浜松ホトニクス C9334-01etc FFP測定ユニット Inq. 1
5INShit-is3-A8080 日立 IS3000 暗視野式ウェーハ欠陥検査装置 Inq. 1
5INShit-ls9-Q6339 日立ハイテクノロジーズ LS9200 ウエハ表面検査装置(パーティクル測定器) 2012 1
5INShit-pd--K8040 日立ハイテク PD-2000 レチクル異物検査装置  1989 1
5INShit-u-2-Q6855 日立 U-2000 分光光度計 Inq. 1
5INShit-u-2-Q6856 日立 U-2010 分光光度計 Inq. 1
5INShit-u39-A8346 日立 U3900 分光光度計 Inq. 1
5INShit-u-4-Q7261 日立 U-4100 分光光度計 2001 1
* 5INShit-wi--Q0156 日立 WI-890 ウエハ外観検査機/6in. 1997 1
5INShit-z-5-Q6852 日立 Z-5310 フレーム原子吸光光度計 Inq. 1
5INShit-z-5-Q6853 日立 Z-5010 ゼーマン原子吸光光度計 Inq. 1
5INShmi-esc-A8082 HMI eScan310 SEM式欠陥検査機 Inq. 1
* 5INShor-ema-R0169 堀場 EMAX-5770 X線分析装置 1995 1
5INShp-406-A5559 HP 4062UX テストシステム Inq. 1
5INSinq-inq-Q5396 Inq. Inq. 透過率計 Inq. 1
* 5INSjds-rm3-P5183 JDSU RM3750 反射減衰測定器 Inq. 1
5INSkey-cv--Q7586 キーエンス CV-X290A 画像センサ 2018 2
5INSkla-760-A6256 KLA-TENCOR 7600 異物検査装置 Inq. 3
* 5INSkla-ait-A0976 KLAテンコール AIT Fusion ウエハ検査機 2002 1
* 5INSkla-ait-C0717 KLAテンコール AIT XUV 欠陥検査機/12in. 2012 1
5INSkla-can-G7709 KLAテンコール Candela CS920 欠陥検査機 2015 1
5INSkla-es3-P6171 KLA / TENCOR eS32 ウエハ検査機 2007 1
5INSkla-es--A5672 KLA ES-32 表面検査機/12in. Inq. 1
5INSkla-hrp-A8079 KLA HRP-340 表面プロファイラ Inq. 1
5INSkla-sfs-A6671 KLA-Tencor SFS 7700 パーティクル検査機 1994-1996 4
5INSkla-sfs-P6300 KLAテンコール SFS6200 欠陥検査機 Inq. 1
5INSkla-sur-A5552 KLA-Tencor SURFSCAN 7700 パーティクルアナライザ Inq. 1
* 5INSkla-ten-A3880 KLAテンコール Tencor eS25 E-beam Inspection/12in. Inq. 1
* 5INSkla-vip-A3879 KLAテンコール Viper 2435 Macro Defect Detection System/12in. Inq. 1
* 5INSkon-cs--S4414 コニカミノルタ CS-2000A 光学測定器 2014 1
* 5INSlei-mis-A0985 ライカ MIS-200 欠陥検査機 Inq. 1
* 5INSmet-de7-Y0397 Met One DE712AF-5 Surface Particle Counter Inq. 1
* 5INSnew-708-P5186 ニューポート 708 8-Channel Butterfly Fixture Inq. 2
5INSnik-6d-Q5381 ニコン 6D オートコリメーター Inq. 2
5INSnik-opt-A6257 ニコン OPTISTATION-3A Wafer Inspection Inq. 4
* 5INSnik-opt-Q0157 ニコン OPTISTATION-3A ウエハ外観検査機/6in. Inq. 1
5INSosi-met-A5561 OSI METRA 2100m 重ね合わせ測定機/6" Inq. 1
5INSosi-met-A5562 OSI METRA II 重ね合わせ測定機/6" Inq. 1
* 5INSoxf-azt-A4595 oxford Aztec X-Max 80T EDS for TEM(分光) 2016 1
* 5INSper-lam-P5176 Perkin Elmer Lambda 900 分光計 Inq. 1
5INSper-sim-A5678 PerkinElmer SIMAA6000 原子吸光分析装置 Inq. 1
5INSphi-ir3-A5670 フィリップス IR3100 赤外線深度測定システム/12in. Inq. 2
5INSqes-dis-G6416 QES DIS-8000 光学検査システム 2010 1
* 5INSrig-txr-Y0379 リガク TXRF3750 X線回折装置/8in. 2007 1
5INSrud-nsx-A6808 ルドルフ NSX100 欠陥検査機/6in Inq. 1
5INSrud-nsx-P7329 Rudolph NSX-105 外観検査機 Inq. 1
* 5INSsan-mi--R0165 三和無線測器 MI-476 酸化膜評価装置 Inq. 1
* 5INSsan-sx--L0412 三生電子 SX-5187 常温検査機/SMD水晶 Inq. 1
5INSsec-x-e-G7721 SEC X-EYE 3000A 分析装置 2007 1
* 5INSsei-sea-C0807 セイコー SEA1000A 蛍光X線分析装置 Inq. 1
5INSshi-smx-E7667 島津 SMX-100 X線分析装置 2001 1
* 5INSson-irg-A0966 ソニー IRG-12 Review Station 2002 1
5INSthe-ics-Q7220 サーモフィッシャー ICS-1500/2000 イオンクロマトグラフ 2008 1
* 5INStos-tos-S4405 東芝ITコントロールシステムズ TOSMICRON 6130FP X線装置 Inq. 1
* 5INSvee-uvx-Y0371 ビーコ UVX210 フォースプロファイラ/8in. 2001 1
* 5INSvis-lds-A1328 Vistec LDS3300M 表面欠陥検査装置 Inq. 1
5INSvis-lds-A5671 Vistec LDS3300M 表面検査機/12in. Inq. 1
5INSvj -ver-I6283 VJ TECHNOLOGIES VERTEX SERIES A-130 X線装置 Inq. 1
5INSwer-sco-L6625 Werth Messtechnik Scope Check 200 3D CNC 3D-CNC マルチセンサ CMM 2002 1
5INSyam-cmq-Q5457 山武 CMQ-V マスフロー Inq. 1
5INSyok-aq2-Q7519 横河電機 AQ2105 光マルチメータ 1988 1


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